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Nahfeldmikroskopie

Laboratoriumsmethoden und -geräte, SNOM (Scanning Near-field Optical Microscopy), lichtoptisches Raster-Mikroskopieverfahren mit einem extrem hohen lateralen Auflösungsvermögen. Nahfeldmikroskope arbeiten im Gegensatz zu herkömmlichen, lichtoptischen Mikroskopen nicht im Fern-, sondern im Nahfeld einer mikroskopischen Probe. Aus diesem Grund gilt für sie nicht die Beugungsbegrenzung des lateralen Auflösungsvermögens. Das laterale Auflösungsvermögen kann durchaus im Bereich zwischen 5-10 nm liegen. In der optischen Nahfeldmikroskopie finden i.a. Quarzspitzen Anwendung. Die Quarzspitze hat dabei einen Öffnungsdurchmesser von etwa 10 nm. Die Spitze wird mittels piezoelektrischer Stellglieder sehr nahe an der Probenoberfläche positioniert. Das aus einem sehr kleinen räumlichen Probenbereich stammende Licht tritt dabei in die Quarzspitze ein. Eine seitliche Metallbedampfung vermindert die Lichtverluste nach Eintritt in die Spitze. Die Spitze wird rasterförmig über die Probenoberfläche geführt und das dabei von jedem Rasterpunkt stammende Licht mittels Photomultiplier nachgewiesen.

 

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