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statistisches Rauschen

Oberflächen- und Grenzflächenphysik, in der Halbleitertechnik die zufälligen Schwankungen der Zahl der Ladungsträger in den Oberflächenschichten. Sie werden durch Elektronen bzw. Löcher hervorgerufen, die auf Grund thermischer oder optischer Anregungen in die Schichten diffundieren. Besonders bei der Messung schwacher Signale, etwa von Sternlicht oder Teilchenereignissen in CCDs, wird so dem Messsignal eine statistische Fluktuation aufgeprägt. Je geringer dieses Untergrundrauschen ist, etwa durch Kühlung der Detektoren, desto stärker ist das Signal-Rausch-Verhältnis (SNR, Signal-Noise-Ratio).

 

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